DS EN 60749-26:2006被替代
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 26: Electrostatic Discharge (Esd) Sensitivity Testing - Human Body Model (Hbm)
出版：Danish Standards
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基本信息
标准编号： DS EN 60749-26:2006
发布时间：2006/12/21 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：Danish Standards
标准页数：20
标准简介
Defines a standard procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined human body model (HBM) electrostatic discharge (ESD).
替代本标准的新标准
等同采用的国际标准
EN 60749-26:2014 - Identical
