当前位置： 首页 > 标准详情页

DIN EN 60749-44 : 2017现行

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 44: NEUTRON BEAM IRRADIATED SINGLE EVENT EFFECT (SEE) TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICES (IEC 60749-44:2016)

出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

获取原文如何获取原文？问客服获取原文，即可享受本标准状态变更提醒服务！

专家解读视频

基本信息

标准编号： DIN EN 60749-44 : 2017

标准类别：Standard

出版单位：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

标准页数：0

等同采用的国际标准

BIS IS/IEC 61558-2-6 : 1ED 2016 - Identical

EN 60749-44 : 2016 - Identical

DIN EN 60749-44 : 2017现行

申请获取原文权限