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CEI EN 60749-26 : 2016现行

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 26: ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) SENSITIVITY TESTING - HUMAN BODY MODEL (HBM)

出版：Comitato Elettrotecnico Italiano

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基本信息

标准编号： CEI EN 60749-26 : 2016

标准类别：Standard

出版单位：Comitato Elettrotecnico Italiano

标准页数：0

标准简介

FASC 14873 E.

等同采用的国际标准

EN 60749-26 : 2014 - Identical

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