ASTM F1893-98(2003)被替代
Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Burnout of Semiconductor Devices
出版：American Society for Testing and Materials
专家解读视频
基本信息
标准编号： ASTM F1893-98(2003)
发布时间：1998/5/10 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：American Society for Testing and Materials
标准页数：5
标准简介
CONTAINED IN VOL. 10.04, 2006Outlines the detailed requirements for testing microcircuits for short pulse high dose-rate ionization-induced failure.
标准备注
Supersedes ASTM F 867M.
(04/2002)
替代本标准的新标准
