DS EN 60749-29:2011现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 29: Latch-Up Test
出版：Danish Standards
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基本信息
标准编号： DS EN 60749-29:2011
发布时间：2011/10/28 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：Danish Standards
标准页数：32
标准简介
Specifies the I-test and the over voltage latch-up testing of integrated circuits. It describes a method for determining integrated circuit (IC) latch-up characteristics and to define latch-up failure criteria.
等同采用的国际标准
EN 60749-29:2011 - Identical
