欢迎来到寰标网! 客服QQ:772084082 加入会员
当前位置: 首页 > 标准详情页

IEC 60747-5-3 Ed. 1.0被替代

Discrete semiconductor devices and integrated circuits Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods

出版:International Electrotechnical Committee

获取原文 如何获取原文?问客服 获取原文,即可享受本标准状态变更提醒服务!

专家解读视频

基本信息
标准编号: IEC 60747-5-3 Ed. 1.0
发布时间:1997/9/5 0:00:00
标准类别:Standard
出版单位:International Electrotechnical Committee
标准页数:61
标准简介

Describes the measuring methods applicable to the optoelectronic devices which are not intended to be used in the fibre optic systems or subsystems.

本标准替代的旧标准

IEC 60747-5 Ed. 2.0

等同采用的国际标准

NEN EN IEC 60747-5-3:2001 - Identical

EN 60747-5-3:2001 - Identical

SS EN 60747-5-3:2001 - Identical

PN EN 60747-5-3:2002 - Identical

I.S. EN 60747-5-3:2001 - Identical

PN EN 60747-5-3:2008 - Identical

NF EN 60747-5-3:2001 - Identical

VDE 0884-3:2003 - Identical

OVE/ONORM EN 60747-5-3:2002 - Identical

BS IEC 60747-5-3:1997 - Identical

DIN EN 60747-5-3 (2003-01) - Identical

BS EN 60747-5-3:2001 - Identical

SN EN 60747-5-3:2001 - Identical

本标准修订后的版本

IEC 60747-5-3 Amd.1 Ed. 1.0 -