
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 29: Latch-Up Test
出版:Comitato Elettrotecnico Italiano

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基本信息
标准编号: CEI EN 60749-29 Ed. 2 (2012)
发布时间:2012/5/1 0:00:00
标准类别:Standard
出版单位:Comitato Elettrotecnico Italiano
标准页数:28
标准简介
2ED 2012 [01/05/2012]1ED 2004 [01/11/2004]
标准备注
Classificazione CEI 47-39 (01/2005) Supersedes CEI EN 60749. (05/2008) 1ED 2004 Edition is valid until 12/05/2014. (06/2012)
本标准替代的旧标准
等同采用的国际标准
EN 60749-29:2011 - Identical