CEI EN 60749-1 Ed. 1 (2005)现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 1: General
出版：Comitato Elettrotecnico Italiano
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基本信息
标准编号： CEI EN 60749-1 Ed. 1 (2005)
发布时间：2005/4/1 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：Comitato Elettrotecnico Italiano
标准页数：18
标准简介
1ED 2005 [01/04/2005]
标准备注
Classificazione CEI 47-40. (05/2005) Supersedes CEI EN 60749. (05/2008)
本标准替代的旧标准
等同采用的国际标准
IEC 60749-1 Ed. 1.0 - Identical
