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NEN EN IEC 60749-26:2014现行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 26: Electrostatic Discharge (Esd) Sensitivity Testing - Human Body Model (Hbm)

出版:Nederlands Normalisatie Instituut

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基本信息
标准编号: NEN EN IEC 60749-26:2014
发布时间:2014/6/1 0:00:00
标准类别:Standard
出版单位:Nederlands Normalisatie Instituut
标准页数:44
标准简介

Defines the procedure for testing, evaluating, and classifying components and microcircuits according to their susceptibility (sensitivity) to damage or degradation by exposure to a defined human body model (HBM) electrostatic discharge (ESD).

本标准替代的旧标准

NEN EN IEC 60749-26:2007

等同采用的国际标准

EN 60749-26 : 2014 - Identical

IEC 60749-26 : 3.0 - Identical

EN 60749-26:2014 - Identical