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EIA 372:1970 (R1999)被替代

The Measurement Of Small-signal Vhf-uhf Transistor Admittance Parameters

出版：JEDEC Solid State Technology Association

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基本信息

标准编号： EIA 372:1970 (R1999)

标准类别：Standard

出版单位：JEDEC Solid State Technology Association

标准页数：0

标准简介

Describes the method to be used for the measurement of small-signal VHF-UHF transistor admittance parameters, in preparing data sheets for JEDEC registration of low power transistors.

替代本标准的新标准

EIA JESD 372:1970 (R2009)

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