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ASTM F867-e1 (Invalid Record)被替代

Guide For Total Dose Radiation Testing Of Semiconductor Devices

出版：American Society for Testing and Materials

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基本信息

标准编号： ASTM F867-e1 (Invalid Record)

标准类别：Standard

出版单位：American Society for Testing and Materials

标准页数：0

标准简介

Covers requirements and procedures for testing semiconductor discrete devices and integrated circuits for effects from ionizing radiation with electrons or gamma rays.

替代本标准的新标准

ASTM F867M-94A

ASTM F867-e1 (Invalid Record)被替代

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