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DIN EN 60749-38 (2008-10)现行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 38: Soft Error Test Method For Semiconductor Devices With Memory

出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

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基本信息

标准编号： DIN EN 60749-38 (2008-10)

发布时间：2008/10/1 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

标准页数：14

标准简介

2008 [01/10/2008]

标准备注

Supersedes DIN IEC 60749-38. (10/2008)

本标准替代的旧标准

DIN IEC 60749-38 (2005-04)

等同采用的国际标准

IEC 60749-38 Ed. 1.0 - Identical

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