PN EN 60749-1:2005现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 1: General
出版：Polish Committee for Standardization
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基本信息
标准编号： PN EN 60749-1:2005
发布时间：2005/8/29 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：Polish Committee for Standardization
标准页数：10
标准简介
2005 [29/08/2005]2004 [15/06/2004]
等同采用的国际标准
IEC 60749-1 Ed. 1.0 - Identical
