当前位置：
首页 >
无损检测 术语 磁记忆检测
无损检测 术语 磁记忆检测 现行
Non-destructive testing—Terminology—Terms used in magnetic memory testing
标准号：GB/T 12604.10-2011
基本信息
标准号：GB/T 12604.10-2011
发布时间：2011-06-16
实施时间：2012-03-01
首发日期：2011-06-16
出版单位：中国标准出版社查看详情>
起草人：林俊明、陈钢、徐可北、沈功田、雷银照、胡先龙、董世运、胡斌
出版机构：中国标准出版社
标准分类： 基础标准与通用方法
ICS分类：无损检测
起草单位：爱德森(厦门)电子有限公司、中国特种设备检测研究院、北京航空材料研究院等
归口单位：全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56)
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
主管部门：全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56)
标准简介
本标准界定了金属磁记忆检测的术语和定义。本标准适用于磁记忆检测和无损检测及其他相关领域。
标准摘要
|
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。 本标准由全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56)归口。 本标准起草单位:爱德森(厦门)电子有限公司、中国特种设备检测研究院、北京航空材料研究院、北京航空航天大学、华北电力科学研究院、装甲兵工程学院、上海泰司检测科技有限公司。 本标准主要起草人:林俊明、陈钢、徐可北、沈功田、雷银照、胡先龙、董世运、胡斌。 |
推荐检测机构
申请入驻
暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~
推荐认证机构
申请入驻
暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~
推荐培训机构
申请入驻
暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~
© 2018 北京寰标伟业科技发展有限公司版权所有并保留所有权利。
ICP备案证书号：京ICP备17031081号-1 客服电话：010-62050868
