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半导体集成电路ＭＯＳ随机存储器测试方法的基本原理已废止

Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for MOS random access memories

标准号：SJ/T 10739-1996

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基本信息

标准号：SJ/T 10739-1996

发布时间：1996-11-20

实施时间：1997-01-01

首发日期：

起草人：

作废日期：2010-01-20

标准分类：技术管理

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