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无损检测仪器 质量检验规则
无损检测仪器 质量检验规则 现行
Non-destructive testing instruments—Quality inspection provisions
标准号：GB/T 32195-2015
基本信息
标准号：GB/T 32195-2015
发布时间：2015-12-10
实施时间：2016-07-01
首发日期：
出版单位：中国标准出版社查看详情>
起草人：李洪国、陈伟、申德峰、马军、王子成。
出版机构：中国标准出版社
标准分类： X射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器
ICS分类：无损检测
提出单位：中国机械工业联合会
起草单位：辽宁仪表研究所、广东汕头超声电子股份有限公司超声仪器分公司、山东省特种设备检验研究院济宁分院、济宁鲁科检测器材有限公司、武汉中科创新技术有限公司。
归口单位：全国试验机标准化技术委员会(SAC/TC 122)
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
主管部门：全国试验机标准化技术委员会(SAC/TC 122)
标准简介
本标准规定了无损检测仪器质量检验规则。包括检验分类、检验分组、检验项目、抽样方案及判定规则。 本标准适用于无损检测仪器及仪器附件（以下简称仪器）的出厂检验、周期检验和型式检验。
标准摘要
|
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则编写。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国试验机标准化技术委员会(SAC/TC122)归口。 本标准起草单位:辽宁仪表研究所、广东汕头超声电子股份有限公司超声仪器分公司、山东省特种设备检验研究院济宁分院、济宁鲁科检测器材有限公司、武汉中科创新技术有限公司。 本标准主要起草人:李洪国、陈伟、申德峰、马军、王子成。 |
标准目录
| 前言 Ⅲ 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 1 4 符号和缩略语 2 5 一般要求 2 6 详细要求 5 7 型式检验 12 |
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