
General specification of ion implantation equipment
标准号:GB/T 15862-2012
基本信息
标准号:GB/T 15862-2012
发布时间:2012-11-05
实施时间:2013-02-15
首发日期:1995-12-22
出版单位:中国标准出版社查看详情>
起草人:郭健辉、彭立波、罗宏洋
出版机构:中国标准出版社
标准分类: 加工专用设备
ICS分类:
31-550
提出单位:中华人民共和国工业和信息化部
起草单位:中国电子科技集团公司第四十八研究所
归口单位:中国电子技术标准化研究所
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
主管部门:中国电子技术标准化研究所
标准简介
本标准规定了离子注入机的术语、产品分类、技术要求、试验、检验规则和标志、包装、运输、贮存。本标准适用于半导体工艺用电能离子注入机。其他离子注入机亦可参照使用。
标准摘要
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。 本标准代替GB/T15862—1995《离子注入机通用技术条件》。 本标准与GB/T15862—1995相比主要变化如下: ———GBn193—1983由GB/T13384—1992代替; ———增加术语“注入角度”(见3.6)、“最大晶片传输效率”(见3.7),并在性能指标及测试方法中做相应要求(见6.4.6); ———环境温度调整为23℃±2℃;相对湿度规定范围30%~50%(见5.1.3); ———安全要求中增加“警示标识”的条款(见6.3.1); ———去掉表3、表4; ———均匀性测量增加了热波探针法测量条件和方法(见6.4.4.1b)); ———重复性测量增加了批间重复性测量方法(见6.4.5.2); ———检验规则去掉例行检验项。 本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。 本标准由中国电子技术标准化研究所归口。 本标准起草单位:中国电子科技集团公司第四十八研究所。 本标准主要起草人:郭健辉、彭立波、罗宏洋。 本标准所代替标准的历次版本发布情况为: ———GB/T15862—1995。 |
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