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中小规模数字集成电路测试设备校准规范现行

Calibration Specification of Small & Medium Scale Digital Integrated Circuit Testing System

标准号：JJF 1160-2006

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基本信息

标准号：JJF 1160-2006

发布时间：2006-12-08

实施时间：2007-03-08

首发日期：

出版单位：中国计量出版社查看详情>

起草人：陈大为、吴京燕等

出版机构：中国计量出版社

标准分类：无线电计量

ICS分类：电学、磁学、电和磁的测量

起草单位：信息产业部电子工业标准化研究所

归口单位：全国无线电计量技术委员会

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

标准简介

本规范适用于测试时钟频率小于10MHz、没有时间测量单元的中小规模数字集成电路测试设备校准。

替代情况

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