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电磁兼容 试验和测量技术 闪烁仪 功能和设计规范
电磁兼容 试验和测量技术 闪烁仪 功能和设计规范 现行
Electromagnetic compatibility—Testing and measurement techniques—Flickermeter—Functional and design specifications
标准号：GB/T 17626.15-2011
基本信息
标准号：GB/T 17626.15-2011
发布时间：2011-12-30
实施时间：2012-08-01
首发日期：2011-12-30
出版单位：中国标准出版社查看详情>
起草人：寿建霞、钱振宇、叶琼瑜、程丽玲、孟志平、刘媛、肖潇、郑军奇、刘晓东等
出版机构：中国标准出版社
标准分类： 电磁兼容
ICS分类：电磁兼容性(EMC)
提出单位：全国电磁兼容标准化技术委员会(SAC/TC 246)
起草单位：上海电器科学研究院、上海三基电子工业有限公司等
归口单位：全国电磁兼容标准化技术委员会(SAC/TC 246)
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
主管部门：全国电磁兼容标准化技术委员会(SAC/TC 246)
标准简介
本部分规定了闪烁测量仪器的功能和设计规范,旨在为所有实际的电压波动波形显示正确的闪烁感知电平。本部分列出了组建这样一种仪器的信息,并给出了基于符合本部分的闪烁仪的输出结果来评估闪烁严酷度的方法。本部分有些内容是基于国际电热联盟(UIE)“骚扰”工作组的工作,有些内容是基于IEEE的工作,其他内容是基于IEC本身的工作。本闪烁仪规范,涉及输入为230V/50Hz和120V/60Hz的测量;对于其他电压和频率的规范正在考虑中。
标准摘要
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GB/T17626《电磁兼容 试验和测量技术》分为以下部分: GB/T17626.1—2006 电磁兼容 试验和测量技术 抗扰度试验总论 GB/T17626.2—2006 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验 GB/T17626.3—2006 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验 GB/T17626.4—2008 电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验 GB/T17626.5—2008 电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验 GB/T17626.6—2008 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度 GB/T17626.7—2008 电磁兼容 试验和测量技术 供电系统及所连设备谐波、谐间波的测量和测量仪器导则 GB/T17626.8—2006 电磁兼容 试验和测量技术 工频磁场抗扰度试验 GB/T17626.9—2011 电磁兼容 试验和测量技术 脉冲磁场抗扰度试验 GB/T17626.10—1998 电磁兼容 试验和测量技术 阻尼振荡磁场抗扰度试验 GB/T17626.11—2008 电磁兼容 试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 GB/T17626.12—1998 电磁兼容 试验和测量技术 振荡波抗扰度试验 GB/T17626.13—2006 电磁兼容 试验和测量技术 交流电源端口谐波、谐间波及电网信号的低频抗扰度试验 GB/T17626.14—2005 电磁兼容 试验和测量技术 电压波动抗扰度试验GB/T17626.15—2011 电磁兼容 试验和测量技术 闪烁仪 功能和设计规范GB/T17626.16—2007 电磁兼容 试验和测量技术 0Hz~150kHz共模传导骚扰抗扰度试验GB/T17626.17—2005 电磁兼容 试验和测量技术 直流电源输入端口纹波抗扰度试验GB/T17626.27—2006 电磁兼容 试验和测量技术 三相电压不平衡抗扰度试验GB/T17626.28—2006 电磁兼容 试验和测量技术 工频频率变化抗扰度试验GB/T17626.29—2006 电磁兼容 试验和测量技术 直流电源输入端口电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 本部分为GB/T17626的第15部分。 本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。 本部分等同采用国际标准IEC61000-4-15:1997+A1:2003(第1.1版)《电磁兼容 试验和测量技术 闪烁仪 功能和设计规范》,并进行如下编辑性修改: ———对规范性引用文件中引用的IEC61000-4系列和IEC61010-1标准,因其版本过低,同时考虑到这些标准换版频繁,因此将其对应的国家标准修改为不注日期引用; ———对表4~表8的序号进行了调整。本部分的表4对应IEC61000-4-15:1997+A1:2003中的表8,是2003年修订件的新增表格;为保证标准全文表格序号的连续性,将其表格序号变更为表4,其后所有的表格序号依次调整。 本部分由全国电磁兼容标准化技术委员会(SAC/TC246)提出并归口。 本部分负责起草单位:上海电器科学研究院、上海三基电子工业有限公司。 本部分主要起草人:寿建霞、钱振宇、叶琼瑜、程丽玲、孟志平、刘媛、肖潇、郑军奇、刘晓东。 |
标准目录
| 前言 Ⅰ 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 仪器描述 2 4 规范 4 5 性能测试 8 6 型式试验和校准规范 9 附录A (规范性附录) 提高闪烁评估准确度的方法 15 A.1 线性内插法 15 A.2 非线性内插法 15 A.3 伪零截取 15 A.4 非线性分类 16 附录B(资料性附录) ΔV/V 的含义和电压变化的次数 17 参考文献 18 |
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