欢迎来到寰标网! 客服QQ:772084082 加入会员

光栅角位移测量系统 现行

Grating angular displacement measuring system

标准号:JB/T 10034-2012

获取原文 如何获取原文?问客服 获取原文,即可享受本标准状态变更提醒服务!
基本信息

标准号:JB/T 10034-2012
发布时间:2012-05-24
实施时间:2012-11-01
首发日期:
出版单位:机械工业出版社查看详情>
起草人:
出版机构:机械工业出版社
标准分类: 量具与量仪
ICS分类:测量仪器仪表
起草单位:四川科奥达技术有限公司、中国科学院光电技术研究所、长春禹衡光学有限公司等
归口单位:全国量具量仪标委会
发布部门:中华人民共和国工业和信息化部

标准简介

本标准规定了光栅角位移测量系统的术语和定义、基本参数及功能、要求、电气安全性能、环境适应性、试验方法、检验规则、标志与包装等。本标准适用于分辨力为0.1″、0.2″、0.5″、1″、2″、5″和10″,准确度等级为±0.25″级、±0.5″级、±1″级、±2″级、±5″级、±10″级和±20″级的光栅角位移测量系统

替代情况

会员注册/登录后查看详情

引用标准

会员注册/登录后查看详情

本标准相关公告

会员注册/登录后查看详情

采标情况

会员注册/登录后查看详情

推荐检测机构
申请入驻

暂未检测到相关机构,邀您申请入驻~

推荐认证机构
申请入驻

暂未检测到相关机构,邀您申请入驻~

推荐培训机构
申请入驻

暂未检测到相关机构,邀您申请入驻~