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空间红外探测器碲镉汞外延材料参数测试方法现行

Measuring methods of parameters of HgCdTe epilayers used for space infrared detectors

标准号：GB/T 30110-2013

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基本信息

标准号：GB/T 30110-2013

发布时间：2013-12-17

实施时间：2014-05-15

首发日期：

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：杨建荣、周立庆、魏彦锋、折伟林、孙士文、陈路、王金义、何力

出版机构：中国标准出版社

标准分类：半金属与半导体材料综合

ICS分类：航空航天用电气设备与系统

起草单位：中国科学院上海技术物理研究所、中国电子科技集团第十一研究所、中国兵器工业集团昆明物理研究所

归口单位：全国空间科学及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 312)

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会

主管部门：全国空间科学及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 312)

标准简介

本标准规定了空间红外探测器用碲镉汞(HgCdTe)外延材料性能参数的测试方法和测试设备要求。本标准适用于空间红外探测器用碲镉汞外延材料的参数测试,其他用途的碲镉汞外延材料参数的测试可参照使用。

标准摘要

本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准由全国空间科学及其应用标准化技术委员会(SAC/TC312)归口。
本标准起草单位:中国科学院上海技术物理研究所、中国电子科技集团第十一研究所、中国兵器工业集团昆明物理研究所。
本标准主要起草人:杨建荣、周立庆、魏彦锋、折伟林、孙士文、陈路、王金义、何力。

标准目录

前言 Ⅰ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 符号和说明 3
5 材料参数测试方法 4
5.1 组分与厚度测试 4
5.2 表面晶向测试 8
5.3 晶格常数测试 9
5.4 表面平整度测试 10
5.5 表面粗糙度测试 12
5.6 材料电学参数测试 13
5.7 少数载流子寿命测试 16
5.8 位错密度测试 18
5.9 表面缺陷密度测试 20
5.10 X射线双晶衍射半峰宽测试 20
5.11 X射线形貌测试 22
5.12 材料性能非均匀性测试 23
6 空间环境下材料抗辐照性能测试方法 24
6.1 试验条件 24
6.2 材料抗辐照性能参数测试 24
7 材料参数的精密度、精确度和不确定度测试方法 24
8 测试设备要求 24
附录A (规范性附录) 材料的光学常数 25
附录B(规范性附录) 纵向组分梯度分布的碲镉汞外延材料透过率Ta+ 和反射率Ra- 的计算 26
附录C (资料性附录) 激光干涉仪原理 29
附录D (资料性附录) 位错密度测量值的标准均方差与腐蚀坑计数平均值的关系 30
参考文献 31

替代情况

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采标情况

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