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半导体集成电路外壳总规范 已作废

Generic specification of packages for semiconductor integrated circuits

标准号:GB 6649-1986

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基本信息

标准号:GB 6649-1986
发布时间:1986-07-31
实施时间:1987-08-01
首发日期:
起草人:
标准分类: 半导体集成电路
起草单位:上海无线电十厂
发布部门:国家标准局

标准简介

本规范适用于半导体集成电路外壳(以下简称外壳),它规定了对外壳进行质量评定时的总程序,并给出了下述测试和试验的总原则:电特性测试;气候和机械试验。对各类外壳,其详细规范和本规定构成对外壳质量的完整要求。

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