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无损检测仪器 工业用X射线CT装置性能测试方法

Non-destructive testing instruments—Properties test method for performance of industrial X-ray computed tomography(CT) equipment
标准号:GB/T 26593-2011
基本信息
标准号:GB/T 26593-2011
发布时间:2011-06-16
实施时间:2011-11-01
首发日期:2011-06-16
出版单位:中国标准出版社查看详情>
起草人:武太峰、于志军、陈浩、郭冰、邵德峰、董殿刚、张宏
出版机构:中国标准出版社
标准分类: X射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器
ICS分类:无损检测
提出单位:中国机械工业联合会
起草单位:辽宁仪表研究所、中国工程物理研究院应用电子学研究所、深圳市华测检测技术股份有限公司等
归口单位:全国试验机标准化技术委员会(SAC/TC 122)
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
主管部门:全国试验机标准化技术委员会(SAC/TC 122)
标准简介
本标准规定了工业用X射线CT装置(以下简称CT装置)性能测试的术语、定义、缩略语以及空间分辨力、密度分辨率、定位光标准确度、层厚准确度、CT值标准差等试验方法。本标准适用于工业CT装置的出厂检验和型式检验。
标准摘要
本标准附录A、附录C、附录D为规范性附录。 本标准附录B为资料性附录。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国试验机标准化技术委员会(SAC/TC122)归口。 本标准负责起草单位:辽宁仪表研究所、中国工程物理研究院应用电子学研究所、深圳市华测检测技术股份有限公司。 本标准参加起草单位:丹东华日理学电气有限公司、丹东市无损检测设备有限公司、丹东市万全无损检测仪器厂。 本标准主要起草人:武太峰、于志军、陈浩、郭冰、邵德峰、董殿刚、张宏。 |
标准目录
前言 Ⅲ 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义及缩略语 1 4 试验方法 2 4.1 空间分辨力测试 2 4.2 密度分辨率测试 3 4.3 定位光标准确度测定 4 4.4 层厚准确度测定 4 4.5 CT值标准差测定 5 附录A (规范性附录) 圆盘标准试件 6 附录B(资料性附录) 圆盘法测试的算法流程 7 附录C (规范性附录) 圆孔型测试卡法测试空间分辨率 10 附录D (规范性附录) 空气间隙法测试密度分辨率 12 |
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