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表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准
表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准 已作废
Surface chemical analysis − X-ray photoelectron spectrometers − Calibration of energy scales
标准号：GB/T 22571-2008
基本信息
标准号：GB/T 22571-2008
发布时间：2008-12-11
实施时间：2009-10-01
首发日期：2008-12-11
出版单位：中国标准出版社查看详情>
起草人：丁训民、吴扬、虞玲
作废日期：2018-01-01
出版机构：中国标准出版社
标准分类： 基础标准与通用方法
ICS分类：化学分析
提出单位：全国微束分析标准化技术委员会
起草单位：复旦大学应用表面物理国家重点实验室
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
标准简介
本标准规定了一种用于一般分析目的时校准X射线光电子能谱仪结合能标尺的方法，该谱仪使用非单色化Al或MgX射线或单色化AlX射线。
标准摘要
|
本标准等同采用ＩＳＯ１５４７２：２００１《表面化学分析———Ｘ 射线光电子能谱仪———能量标尺的校准》。 为便于使用，本标准对ＩＳＯ１５４７２：２００１做了下列编辑性修改： ———删除了原国际标准的前言部分； ———将本国际标准改为本标准。 附录Ａ 为规范性附录，附录Ｂ、附录Ｃ 和附录Ｄ 为资料性附录。 本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口。 本标准起草单位：复旦大学应用表面物理国家重点实验室。 本标准主要起草人：丁训民、吴扬、虞玲。 |
标准目录
| 前言Ⅲ 引言Ⅳ １ 范围１ ２ 规范性引用文件１ ３ 符号和缩略语１ ４ 方法概述２ ５ 校准能量标尺的步骤５ 附录Ａ（规范性附录）用一种简单的计算方法对峰结合能作最小二乘法确定１２ 附录Ｂ（资料性附录）不确定度的推导１４ 附录Ｃ（资料性附录）对测得的结合能不确定度的引用１６ 附录Ｄ（资料性附录）用配置单色化ＡｌＸ 射线源的ＸＰＳ谱仪测量修改型俄歇参数的方法１８ 参考文献２０ |
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