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黄金制品镀层成分的 X 射线能谱测量方法已作废

Surface composition analysis method of gold-plated products by EDX

标准号：GB/T 17723-1999

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基本信息

标准号：GB/T 17723-1999

发布时间：1999-04-01

实施时间：1999-01-02

首发日期：1999-04-11

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：

作废日期：2009-05-01

出版机构：中国标准出版社

标准分类：电子光学与其他物理光学仪器

ICS分类：光学设备

起草单位：北京有色金属研究总院

归口单位：全国微束分析标准化技术委员会

发布部门：国家质量技术监督局

主管部门：国家标准化管理委员会

标准简介

本标准规定了应用扫描电镜X射线能谱仪（包括装有X射线能谱仪的电子探针仪）对镀金制品表面金及金合金单层均匀镀层成分的非破坏性分析测量方法。本标准适用于表面镀金及金合金，其镀层厚度为0.2μm以上，3μm以下范围内的成分测量(不包括基体和金镀层材料相近的镀层成分的测量)。

替代情况

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