吸气剂气体吸放性能测试方法【GB/T 25497-2010】-寰标网

基本信息

标准号：GB/T 25497-2010

发布时间：2010-12-01

实施时间：2011-05-01

首发日期：1986-07-25

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：薛函迎、郭卫斌、张巨先、刘筠

出版机构：中国标准出版社

标准分类：电子技术专用材料

ICS分类： 31.030

提出单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会

起草单位：南京华东赛斯真空材料有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究所、中国电子科技集团第十二研究所

归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会

主管部门：全国半导体设备和材料标准化技术委员会

标准简介

本标准规定了吸气剂放气量的测试方法、掺氮吸气剂释氮吸气动态曲线的测试方法、释汞吸气剂放气回吸曲线的测试方法、定压法吸气性能测试方法、定容法吸气性能测试方法等吸气剂气体吸放性能测试方法。本标准适用于真空器件用吸气剂。

标准摘要

本标准是将以下标准整合后进行修订的:
———GB/T6626.3—1986《释汞吸气剂性能测试方法释汞吸气剂放气量的测试方法》;
———GB/T9506.4—1988《吸气剂放气量测试方法》;
———GB/T9506.5—1988《掺氮吸气剂释氮吸气动态曲线测试方法》;
———GB/T9506.7—1988《蒸散型钡吸气剂吸气性能测试方法》;
———GB/T9506.8—1988《非蒸散型吸气剂吸气性能测试方法》。
本标准与原标准相比主要变化如下:
———删除定义的术语,在规范性引用文件中新增GB/T4314《吸气剂术语》;
———将蒸散型与非蒸散型吸气性能的测试方法合并为定压法的吸气性能测试方法,修订相应的测试设备要求。如对定压法测试分子流状态时的吸气性能系统的漏放率要求由统一的
1×10-7 Pa·L/s,改为在满足测试准确度要求的前提下,按特征吸着容量进行计算,吸气量大的吸气剂可以适当放宽;
———将定压法测试非蒸散型吸气剂的气体纯度的要求由99.8%提高到99.99%;
———将定压法测试蒸散型吸气剂吸气性能时,测不可吸收气体压强的时间由15 min 延长到25min;
———取消释汞吸气剂加热升温曲线,改为30s内线性加热到900°;
———去除GB6626.1—1986《释汞吸气剂性能测试方法释汞吸气剂释汞特性的测试方法》中附录A 关于清洗含汞玻璃系统的部分;
———取消释汞吸气剂和非蒸散型吸气剂放气量计算时的气体修正系数;
———取消比放气量的计算;
———将蒸散型吸气剂放气量测试的起蒸时间由按使用领域划分更改为按含钡(钙…)量划分;
———取消GB/T9506.4—1988《吸气剂放气量测试方法》中附录B 吸气剂测试系统容积的推荐值;
———取消GB/T9506.5—1988《掺氮吸气剂释氮吸气动态曲线测试方法》中关于蒸散线圈的要求;
———增加释汞吸气剂放气回吸动态曲线测试方法;
———增加定容法吸气性能测试方法;
———增加各温度的汞饱和蒸气压;
———根据GB/T1.1—2000的要求进行格式修订。
本标准代替下列标准:
———GB/T6626.3—1986《释汞吸气剂性能测试方法释汞吸气剂放气量的测试方法》;
———GB/T9506.4—1988《吸气剂放气量测试方法》;
———GB/T9506.5—1988《掺氮吸气剂释氮吸气动态曲线测试方法》;
———GB/T9506.7—1988《蒸散型钡吸气剂吸气性能测试方法》;
———GB/T9506.8—1988《非蒸散型吸气剂吸气性能测试方法》。
本标准的附录A、附录B、附录C是规范性附录。
本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会提出并归口。
本标准起草单位:南京华东赛斯真空材料有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究所、中国电子科技集团公司第十二研究所。
本标准主要起草人:薛函迎、郭卫斌、张巨先、刘筠。

替代情况

会员注册/登录后查看详情

引用标准

会员注册/登录后查看详情

本标准相关公告

会员注册/登录后查看详情

采标情况

会员注册/登录后查看详情

推荐检测机构

申请入驻

暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~

推荐认证机构

申请入驻

暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~

推荐培训机构

申请入驻

暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~

吸气剂气体吸放性能测试方法现行

申请获取原文权限

吸气剂气体吸放性能测试方法 现行

申请获取原文权限

吸气剂气体吸放性能测试方法现行