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红外焦平面阵列参数测试方法
红外焦平面阵列参数测试方法 现行
Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays
标准号：GB/T 17444-2013
基本信息
标准号：GB/T 17444-2013
发布时间：2013-11-12
实施时间：2014-04-15
首发日期：
出版单位：中国标准出版社查看详情>
起草人：丁瑞军、梁平治、唐红兰、陈洪雷、曹妩媚、殷建军、陈世军
出版机构：中国标准出版社
标准分类： 红外器件
ICS分类：光电子学、激光设备
提出单位：中华人民共和国工业和信息化部
起草单位：中国科学院上海技术物理研究所
归口单位：工业和信息化部电子工业标准化研究所
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
主管部门：工业和信息化部电子工业标准化研究所
标准简介
本标准对红外焦平面阵列特性参数及相关量进行了定义。本标准给出了红外焦平面阵列特性参数的测试方法及测试条件。本标准适用于线列和面阵红外焦平面阵列。
标准摘要
|
本标准按照GB1.1—2009给出的规则起草。 本标准代替GB/T17444—1998《红外焦平面阵列特性参数测试技术规范》,与GB/T17444—1998相比主要变化如下: ———标准名称修改为《红外焦平面阵列参数测试方法》。 ———增加了一些参数定义,如:红外焦平面阵列、像元、帧频、行频、固定图形噪声、平均峰值探测率、饱和信号电压、像元噪声等效温差。 ———增加一些参数测试方法,如:固定图形噪声、读出速率、帧频。 ———增加了附录D《调制传递函数测试方法》、附录E《非线性度测试方法》。 ———修改了部分参数的名称和定义,如:积分时间、读出速率、辐照功率、辐照能量、饱和辐照功率、死像元、过热像元、噪声等效功率。 ———修改了部分参数的测试方法,如:响应率、噪声电压、噪声等效温差、探测率、动态范围、相对光谱响应、串音。 本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。 本标准由工业和信息化部电子工业标准化研究所归口。 本标准起草单位:中国科学院上海技术物理研究所。 本标准主要起草人:丁瑞军、梁平治、唐红兰、陈洪雷、曹妩媚、殷建军、陈世军。 本部所代替标准的历次版本发布情况为: ———GB/T17444—1998。 |
标准目录
| 前言 Ⅰ 1 范围 1 2 术语和定义 1 3 符号和单位 4 4 测试方法 5 4.1 方法3001:响应率和响应率不均匀性 5 4.2 方法3002:噪声电压 8 4.3 方法3003:探测率 9 4.4 方法3004:噪声等效温差 9 4.5 方法3005:有效像元率 10 4.6 方法3006:固定图形噪声 11 4.7 方法3007:噪声等效功率 11 4.8 方法3008:饱和辐照功率 12 4.9 方法3009:动态范围 12 4.10 方法3010:相对光谱响应 13 4.11 方法3011:读出速率、帧频 14 4.12 方法3012:串音 15 附录A (规范性附录) 响应率的其他表示 17 附录B(规范性附录) 空间噪声 18 附录C (资料性附录) 备用特性参数及相关量 19 附录D (资料性附录) 调制传递函数测试方法 20 附录E (资料性附录) 非线性度测试方法 22 附录F(规范性附录) 一种推荐算法 23 |
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