微束分析 电子探针分析 标准样品技术条件导则 现行
Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for the specification of certified reference materials (CRMs)
标准号：GB/T 4930-2008
本标准给出了用于电子探针分析的单相标样，并规定了标样仅应用在平整抛光表面的显微分析中。本标准不包括有机物和生物标样。本标准等同采用ＩＳＯ１４５９５：２００３《微束分析 电子探针分析 标准样品技术条件导则》（英文版）。 本标准代替ＧＢ／Ｔ４９３０—１９９３《电子探针分析标准样品通用技术条件》，因为国际上的发展原标准在技术上已不适用。本标准对ＧＢ／Ｔ４９３０—１９９３进行了全面修改：———标题：将ＧＢ／Ｔ４９３０—１９９３原标题“电子探针分析标准样品通用技术条件”改为“微束分析电子探针分析 标准样品技术条件导则”；———所有技术条文的项目、内容、结构顺序都作了变动，运用的技术方法更先进，更合理；———标样材料不均匀性检测及其数据统计处理改用美国国家标准技术研究院（ＮＩＳＴ）和英国国家物理实验室（ＮＰＬ）共同研制的检测和统计方法；———将标样分级的概念引入本标准，使制作和应用标样的领域扩大，更合理，更全面。
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本标准等同采用ISO14595:2003《微束分析 电子探针分析 标准样品技术条件导则》(英文版)。 为了便于使用,本标准做了下列编辑性修改: ---本国际标准一词改为本标准; ---用小数点.代替作为小数点的逗号,; ---删除国际标准的前言。 本标准代替GB/T4930-1993《电子探针分析标准样品通用技术条件》,因为国际上的发展原标准在技术上已不适用。 本标准对GB/T4930-1993进行了全面修改: ---标题:将GB/T4930-1993原标题电子探针分析标准样品通用技术条件(00j)Tj改为微束分析 电子探针分析 标准样品技术条件导则; ---所有技术条文的项目、内容、结构顺序都作了变动,运用的技术方法更先进,更合理; ---标样材料不均匀性检测及其数据统计处理改用美国国家标准技术研究院(NIST)和英国国家物理实验室(NPL)共同研制的检测和统计方法; ---将标样分级的概念引入本标准,使制作和应用标样的领域扩大,更合理,更全面。 本标准的附录B为规范性附录,附录A、附录C 为资料性附录。 本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口。 本标准起草单位:中国科学院广州地球化学研究所。 本标准主要起草人:刘永康、万光权、梁细荣、杨秋剑。 本标准所代替标准的历次版本发布情况为: ---GB4930-1985、GB/T4930-1993。 |
| 前言Ⅲ 引言Ⅳ 1 范围1 2 规范性引用文件1 3 术语和定义1 4 研究材料的制备1 5 材料的不均匀性2 6 研究材料的稳定性6 7 标样化学成分的测定7 8 标样试样的制备、包装、运输和储存7 9 标样证书7 附录A (资料性附录) 不均匀性数据统计评价计算过程示例9 附录B (规范性附录) 推荐的电子探针分析用标样分级11 附录C (资料性附录) 电子探针分析标样证书范例12 参考文献13 |
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