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识别卡柔性薄卡第3部分：测试方法现行

Identification cards—Thin flexible cards—Part 3:Test methods

标准号：GB/T 28177.3-2012

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基本信息

标准号：GB/T 28177.3-2012

发布时间：2012-12-31

实施时间：2013-06-01

首发日期：

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：

出版机构：中国标准出版社

标准分类：数据媒体

ICS分类：识别卡和有关装置

归口单位：全国信息技术标准化技术委员会

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会

主管部门：国家标准化管理委员会

标准简介

标准目录

前言 Ⅲ
引言 Ⅳ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 2
4 物理特性测试方法 3
4.1 概述 3
4.2 尺寸 4
4.3 厚度 4
4.4 分离力 5
4.5 卷绕 6
4.6 耐破度 6
4.7 挺度 6
4.8 耐折度 7
4.9 灰分 7
4.10 平滑度 7
4.11 不透明度(纸背衬)和阻光度(700nm~1000nm) 7
4.12 摩擦系数和堆垛力 8
4.13 反射因数 8
4.14 透气度 8
4.15 施胶度 8
4.16 耐撕裂强度 9
4.17 抗分层力 9
4.18 冷裂温度(脆度) 13
5 磁条物理特性的试验方法 14
5.1 样品准备和保存 14
5.2 条件和测试环境 14
5.3 凸起 14
5.4 轮廓偏差 15
5.5 粗糙度Ra 和Rz 15
5.6 翘曲 16
5.7 粘合 16
5.8 磨损试验 16
__ 5.9 磁条尺寸测量 17
6 静磁特性的测试方法 17
6.1 原理 17
6.2 仪器 17
6.3 样品的准备和保存 18
6.4 规程 18
6.5 结果表述 19
6.6 矫顽力HcM 20
6.7 矩形比SQ 20
6.8 开关场分布(SFD) 20
6.9 测试报告 20
7 动态磁特性测试方法 21
7.1 原理 21
7.2 基准卡 21
7.3 仪器 21
7.4 准备和样品保存 21
7.5 测试方法 22
7.6 结果表述 22
7.7 测试报告 22
8 带非接触式芯片和天线的卡片测试 23
8.1 相连卡的芯片/天线连接的可靠性 23
8.2 单张卡的芯片/天线连接的可靠性 24
8.3 耐划痕测试后的芯片/天线连接性测试 25
8.4 卡的耐折皱或折叠测试 26
参考文献 28

替代情况

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引用标准

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采标情况

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