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石英晶体元件参数的测量第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量现行

Measurement of quartz crystal unit parameters Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)

标准号：SJ/T 11212-1999

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基本信息

标准号：SJ/T 11212-1999

发布时间：1999-08-26

实施时间：1999-12-01

首发日期：

起草人：章怡、宋佩钰、邓鹤松、边一林

标准分类：石英晶体、压电元件

提出单位：电子工业部标准化研究所

起草单位：电子工业部标准化研究所

归口单位：电子工业部标准化研究所

发布部门：中华人民共和国信息产业部

标准简介

本规范适用于石英晶体件激励电平相关性（DLD）的测量。本标准规定两种试验方法。方法A，以SJ/Z9154.1-87的π型网络为基础，适宜和于该标覆盖的整个频率范围。方法B，是振荡器法，适用于固定条件下大批量基频石英晶体件的测量。

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