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半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法现行

Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energy spectrometers

标准号：GB/T 11685-2003

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基本信息

标准号：GB/T 11685-2003

发布时间：2003-07-07

实施时间：2004-01-01

首发日期：1989-10-14

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：熊正隆

出版机构：中国标准出版社

标准分类：核仪器与核探测器综合

ICS分类：核能综合

提出单位：全国核仪器仪表标准化技术委员会

起草单位：核工业标准化研究所

归口单位：核工业标准化研究所

发布部门：国防科学技术工业委员会

主管部门：国防科学技术工业委员会

标准简介

本标准规定了半导体x射线探测器系统和半导体x射线能谱仪主要特性的测量方法。本标准适用于半导体x射线探测器系统和半导体x射线能谱仪主要性能的测量。

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