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识别卡测试方法第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备现行

Identification cards - Test methods Part 3: Integrated circuit(s) cards with contacts and related interface devices

标准号：GB/T 17554.3-2006

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基本信息

标准号：GB/T 17554.3-2006

发布时间：2006-03-14

实施时间：2006-07-01

首发日期：2006-03-14

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：冯敬、蔡怀忠、耿力、金倩、刘华茂

出版机构：中国标准出版社

标准分类：数据媒体

ICS分类：识别卡和有关装置

提出单位：中华人民共和国信息产业部

起草单位：中国电子技术标准化研究所

归口单位：全国信息技术标准化技术委员会

发布部门：国家标准化管理委员会

主管部门：国家标准化管理委员会

标准简介

本标准规定了符合GB/T14916-2006所定义识别卡特性的一些测试方法，本部分定义了带触点的集成电路卡的测试方法。

标准摘要

GB/T17554《识别卡测试方法》拟分为7个部分:
-第1部分:一般特性测试
-第2部分:磁条卡
-第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备
-第4部分:无触点集成电路卡
-第5部分:光记忆卡
-第6部分:接近式卡
-第7部分:邻近式卡
本部分为GB/T17554的第3部分。修改采用国际标准ISO/IEC10373-3:2001《识别卡测试方法第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备})(英文版)。
本部分与ISO/IEC10373-3:2001相比,增加和修改了下列内容:
a)增加了4.6.2.2参数定义;
b)附录A中增加了A.1.2点压力测试,:
c)附录A因增加A.1.2,其编号作了编辑性修改。
根据新版识别卡带触点的集成电路卡物理特性标准做了以上修改。
本部分的附录A是资料性附录。
本部分由中华人民共和国信息产业部提出。
本部分由中国电子技术标准化研究所归口。
本部分起草单位:中国电子技术标准化研究所。
本部分主要起草人:冯敬、蔡怀忠、耿力、金倩、刘华茂。

替代情况

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