当前位置： 首页 > 半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法

半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法现行

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry

标准号：GB/T 35007-2018

获取原文如何获取原文？问客服获取原文，即可享受本标准状态变更提醒服务！

基本信息

标准号：GB/T 35007-2018

发布时间：2018-03-15

实施时间：2018-08-01

首发日期：

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：陈雁、罗彬、郭超、王会影、李锟、蔡志刚、邬海忠、钟科

出版机构：中国标准出版社

标准分类：半导体集成电路

ICS分类：集成电路、微电子学

提出单位：中华人民共和国工业和信息化部

起草单位：成都振芯科技股份有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市国微电子有限公司、深圳市众志联合电子有限公司、中国电子科技集团公司第二十九研究所

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局国家标准化管理委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

标准简介

本标准规定了半导体集成电路低电压差分信号（LVDS，Low Voltage Differential Signaling）电路（以下称为器件）静态参数、动态参数测试方法的基本原理。本标准适用于低电压差分信号电路静态参数、动态参数的测试。

替代情况

会员注册/登录后查看详情

引用标准

会员注册/登录后查看详情

本标准相关公告

会员注册/登录后查看详情

采标情况

会员注册/登录后查看详情

推荐检测机构

申请入驻

暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~

推荐认证机构

申请入驻

暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~

推荐培训机构

申请入驻

暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~

半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法 现行