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半导体管特性图示仪通用规范现行

General specification test methods for semiconductor device curve tracers

标准号：GB/T 13973-2012

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基本信息

标准号：GB/T 13973-2012

发布时间：2012-12-31

实施时间：2013-06-01

首发日期：

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：吴宗苏、徐正江、朱佩华、徐长风、俞见逸

出版机构：中国标准出版社

标准分类：电子测量与仪器综合

ICS分类：电学、磁学、电和磁的测量

提出单位：中华人民共和国工业和信息化部

起草单位：上海新建仪器设备有限公司

归口单位：全国电子测量仪器标准化技术委员会(SAC/TC 153)

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会

主管部门：全国电子测量仪器标准化技术委员会(SAC/TC 153)

标准简介

本标准规定了半导体管特性图示仪的术语和定义、要求、测试方法、质量检验规则、标识、包装、运输、贮存等。本标准适用于测试半导体管特性曲线和直流参数的半导体管特性图示仪,也适用于具有插入单元或附属装置的半导体管特性图示仪。图示仪的产品标准应满足本标准的要求,当图示仪的产品标准要求超出本标准要求时,应以产品标准为准。

标准摘要

本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准代替GB/T13973—1992《半导体管特性图示仪通用技术条件》、GB/T13974—1992《半导体管特性图示仪测试方法》。
本标准纳入并调整了GB/T13973—1992、GB/T13974—1992中适用的内容。在环境适应性中各试验项目按照GB/T6587—2012《电子测量仪器通用规范》中的有关规定。主要变化如下:
———增加了“术语和定义”(见第3章);
———增加了“基准工作条件”(见5.1);
———增加了“检验条件”(见5.2);
———增加了“集电极大电流偏转系数”(见5.7.2.1.3);
———增加了“精密电阻器参考值”(见表3);
———增加了“阶梯电流偏移和阶梯电压偏移”(见5.7.4.6、5.7.4.7)。
本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本标准由全国电子测量仪器标准化技术委员会(SAC/TC153)归口。
本标准起草单位:上海新建仪器设备有限公司。
本标准主要起草人:吴宗苏、徐正江、朱佩华、徐长风、俞见逸。
本标准所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T13973—1992;
———GB/T13974—1992。

标准目录

前言 Ⅲ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
3.1 通用 1
3.2 显示部分 2
3.3 Y 轴及X 轴偏转部分 2
3.4 阶梯部分 3
3.5 集电极扫描部分 3
3.6 其他 4
4 要求 4
4.1 外观与结构 4
4.2 尺寸和重量 4
4.3 功能正常性 4
4.4 性能特性 4
4.5 功率 8
4.6 安全 8
4.7 环境适应性 8
4.8 包装运输 10
4.9 电磁兼容性 10
4.10 电源适应性 10
4.11 可靠性 10
5 测试方法 10
5.1 基准工作条件 10
5.2 检验条件 11
5.3 测试要求 11
5.4 外观与结构 12
5.5 尺寸和重量 12
5.6 功能正常性 12
5.7 性能特性 12
5.8 安全 28
5.9 环境适应性 29
5.10 包装运输 29
5.11 电磁兼容性 30
5.12 电源适应性 30
5.13 可靠性 30
6 质量检验规则 30
6.1 检验分类 30
6.2 检验项目 30
6.3 检验方法 30
6.4 鉴定检验 30
6.5 质量一致性检验 32
7 标志、包装、运输、贮存 34
7.1 标志 34
7.2 包装 34
7.3 运输 34
7.4 贮存 34
8 随机文件和备附件 35

替代情况

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采标情况

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