数字可寻址照明接口 第210部分：控制装置的特殊要求 程序装置（设备类型9） 已废止
Digital addressable lighting interface—Part 210:Particular requirements for control gear—Sequencer(device type 9)
标准号：GB/T 30104.210-2013
基本信息
标准号：GB/T 30104.210-2013
发布时间：2013-12-17
实施时间：2014-11-01
首发日期：
出版单位：中国标准出版社查看详情>
起草人：侯民贤、吴元辉、张迎春、张九六、区志杨、宋金地、伍永乐、黎锦洪、江姗、段彦芳、赵秀荣。
作废日期：2017-12-15
出版机构：中国标准出版社
标准分类： 灯具附件
ICS分类：
29.140.50;29.140.99
提出单位：中国轻工业联合会
起草单位：杭州鼎盛科技仪器有限公司、苏州盟泰励宝光电有限公司、杭州中为光电技术股份有限公司、佛山市华全电气照明有限公司、深圳市中电照明股份有限公司、广东凯乐斯光电科技有限公司、东莞市品元光电科技有限公司、北京电光源研究所。
归口单位：全国照明电器标准化技术委员会(SAC/TC224)
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
主管部门：中国轻工业联合会
标准简介
GB/T30104的本部分规定了电子控制装置在自动运行的程序模式下的数字信号控制协议和测试程序。
标准摘要
|
前 言 GB/T30104《数字可寻址照明接口》分为13个部分: ———第101部分:一般要求 系统; ———第102部分:一般要求 控制装置; ———第103部分:一般要求 控制设备; ———第201部分:控制装置的特殊要求 荧光灯(设备类型0); ———第202部分:控制装置的特殊要求 可容式应急照明(设备类型1); ———第203部分:控制装置的特殊要求 放电灯(荧光灯除外)(设备类型2); ———第204部分:控制装置的特殊要求 低压卤钨灯(设备类型3); ———第205部分:控制装置的特殊要求 白炽灯用电源电压控制器(设备类型4); ———第206部分:控制装置的特殊要求 数字信号转换成直流电压(设备类型5); ———第207部分:控制装置的特殊要求 LED模块(设备类型6); ———第208部分:控制装置的特殊要求 开关功能(设备类型7); ———第209部分:控制装置的特殊要求 颜色控制(设备类型8); ———第210部分:控制装置的特殊要求 程序装置(设备类型9)。 本部分为GB/T30104的第210部分。本部分按照GB/T1.1—2009和GB/T20000.2—2009给出的规则起草。本部分使用翻译法等同采用IEC62386-210:2011《数字可寻址照明接口 第210部分:控制装置的特殊要求 程序装置(设备类型9)》。本部分由中国轻工业联合会提出。本部分由全国照明电器标准化技术委员会(SAC/TC224)归口。本部分起草单位:杭州鼎盛科技仪器有限公司、苏州盟泰励宝光电有限公司、杭州中为光电技术股份有限公司、佛山市华全电气照明有限公司、深圳市中电照明股份有限公司、广东凯乐斯光电科技有限公司、东莞市品元光电科技有限公司、北京电光源研究所。本部分起草人:侯民贤、吴元辉、张迎春、张九六、区志杨、宋金地、伍永乐、黎锦洪、江姗、段彦芳、赵秀荣。 |
标准目录
| 目 次 前言 Ⅴ 引言 Ⅵ 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 1 4 概述 1 5 电气规范 2 6 接口电源 2 7 传输协议结构 2 8 计时 2 9 运行方法 2 10 变量申明 6 11 指令定义 7 12 测试程序 14 参考文献 69 图1 自动运行流程的定时示例 5 图2 应用扩展配置指令流程实例 9 图3 物理地址分配测试流程 15 图4 查询特征测试流程 16 图5 设置点N 测试流程 17 图6 设置-发送两次测试流程 19 图7 设置-超时测试流程 20 图8 设置-中间指令1测试流程 22 图9 设置-中间指令2测试流程 24 图10 复制到点N 测试流程 26 图11 复制到点N-发送两次测试流程 28 图12 复制到点N-超时测试流程 30 图13 复制到点N-中间指令测试流程 32 图14 通道选择测试流程 34 图15 通道选择-发送两次/超时测试流程 35 图16 通道选择-中间指令测试流程 36 图17 设置控制N 测试流程 37 图18 设置控制N-发送两次/超时测试流程 38 图19 设置控制N-中间指令测试流程 39 图20 启用设备类型:应用扩展指令测试流程 41 图21 启用器件类型:应用扩展设置指令1测试流程 43 图22 启用设备类型:应用扩展设置指令2测试流程 45 图23 子流程设置流程 46 图24 去点N 测试流程 47 图25 去下一点测试流程 49 图26 去前一点测试流程 50 图27 自动运行流程测试流程 351 图28 自动运行流程测试流程的时序 52 图29 自动运行流程-指针测试流程 53 图30 自动运行流程-运行次数测试流程 55 图31 自动运行流程-用指令停止测试流程 56 图32 程序装置性能测试流程 57 图33 程序装置性能测试模板 58 图34 在点N 开始-运行次数测试流程 59 图35 重置程序装置测试流程 61 图36 重置程序装置-发送两次/超时测试流程 62 图37 重置程序装置-中间指令测试流程 63 图38 重置控制N 测试流程 65 图39 故障通道测试流程 66 图40 查询扩展版本号测试流程 67 图41 预留的应用扩展指令测试流程 68 表1 程序装置存储的变量 4 表2 程序装置编程示例 5 表3 变量申明 6 表4 应用扩展指令集汇总 13 表5 设置点N 测试流程的参数 18 表6 设置-发送两次测试流程的参数 19 表7 设置-超时测试流程的参数 21 表8 设置-中间指令1测试流程的参数 23 表9 设置-中间指令2测试流程的参数 25 表10 复制到点N 测试流程的参数 27 表11 复制到点N-发送两次测试流程参数 29 表12 复制到点N-超时测试流程的参数 31 表13 复制到点N-中间指令测试流程的参数 33 表16 通道选择-中间指令测试流程的参数 36 表19 设置控制N-中间指令测试流程的参数 40 表20 启用设备类型:应用扩展指令测试流程的参数 42 表21 启用器件类型:应用扩展设置指令1测试流程的参数 44 表23 子流程设置流程的参数 46 表24 去点N 测试流程的参数 48 表27 自动运行流程测试流程的参数 51 表29 自动运行模式-指针测试流程的参数 54 表30 自动运行流程-运行次数测试流程的参数 55 表31 自动运行流程-用指令停止测试流程的参数 57 表34 在点N 开始-运行次数测试流程的参数 60 表37 重置程序装置-中间指令测试流程的参数 64 表39 故障通道测试流程的参数 67 表41 预留的应用扩展指令测试流程的参数 68 |
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