石英晶体元件参数的测量 第7部分：石英晶体元件活性跳变的测量 现行
Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 7:Measurement of activity dips of quartz crystal units
标准号：GB/T 22319.7-2015
基本信息
标准号：GB/T 22319.7-2015
发布时间：2015-06-02
实施时间：2016-02-01
首发日期：
出版单位：中国标准出版社查看详情>
起草人：章怡、梁生元、胡志雄、邹飞
出版机构：中国标准出版社
标准分类： 石英晶体、压电元件
ICS分类：压电器件和介质器件
提出单位：中华人民共和国工业和信息化部
起草单位：中国电子元件行业协会压电晶体分会、南京中电熊猫晶体科技有限公司、唐山晶源裕丰电子股份有限公司、郑州原创电子科技有限公司
归口单位：全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC182)
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准简介
GB/T22319的本部分规定了在温度范围内石英晶体元件活性跳变的测量方法。
标准摘要
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GB/T22319《石英晶体元件参数的测量》分为如下几部分: ———第1部分:用π型网络零相位法测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法; ———第2部分:测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法; ———第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率和负载谐振电阻RL 的测量方法及其 他导出参数的计算; ———第5部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法; ———第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量; ———第7部分:石英晶体元件活性跳变的测量; ———第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具; ———第9部分:石英晶体元件寄生谐振的测量。 本部分为 GB/T22319的第7部分。 本部分按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。 本部分使用翻译法等同采用IEC60444-7:2004《石英晶体元件参数的测量 第7部分:石英晶体元件活性跳变和频率跳变的测量》。 本部分作了下列编辑性修改: ———将表1中脚注“*”改为脚注“a”; ———将3.3中评估公式序号(A)~(D)分别改为a)~d); ———删除评估公式a)前面的“频率跳变”和公式c)前面的“活性跳变”。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。 本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。 本部分由全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC182)归口。 本部分起草单位:中国电子元件行业协会压电晶体分会、南京中电熊猫晶体科技有限公司、唐山晶源裕丰电子股份有限公司、郑州原创电子科技有限公司。 本部分主要起草人:章怡、梁生元、胡志雄、邹飞。 |
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