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电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第3部分：平均线膨胀系数测试方法现行

Test methods for properties of structure ceramicused in electronic components and device—Part 3:Test method for mean coefficient of linear expansion

标准号：GB/T 5594.3-2015

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基本信息

标准号：GB/T 5594.3-2015

发布时间：2015-05-15

实施时间：2016-01-01

首发日期：

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：高陇桥、黄国立、胡菊飞

出版机构：中国标准出版社

标准分类：电子技术专用材料

ICS分类： 31-030

提出单位：中华人民共和国工业和信息化部

起草单位：中国电子科技集团公司第十二研究所、河南济源兄弟材料有限公司、浙江温岭特种陶瓷厂

归口单位：中国电子技术标准化研究院

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

标准简介

GB/T5594的本部分规定了陶瓷材料平均线膨胀系数测试的样品、测试设备、测试方法及报告格式。本部分适用于电子元器件结构陶瓷材料的平均线膨胀系数的测试。

标准摘要

GB/T5594《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法》的结构如下:
———气密性测试方法(GB/T5594.1);
———杨氏弹性模量泊松比测试方法(GB/T5594.2);
———第3部分:平均线膨胀系数测试方法(GB/T5594.3);
———第4部分:介电常数和介质损耗角正切值测试方法(GB/T5594.4);
———体积电阻率测试方法(GB/T5594.5);
———第6部分:化学稳定性测试方法(GB/T5594.6);
———第7部分:透液性测定方法(GB/T5594.7);
———第8部分:显微结构测定方法(GB/T5594.8);
———电击穿强度测试方法(GB/T5594.9)。
本部分为 GB/T5594的第3部分。
本部分按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本部分代替 GB/T5594.3—1985《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法平均线膨胀系数测试方法》。
本部分与 GB/T5594.3—1985相比,主要有下列变化:
———标准名称改为:“电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第3部分:平均线膨胀系数测试方法”;
———4.1测试样品改为?3.5×50mm;
———4.2套管和传递杆的材料从石英玻璃变化为石英玻璃或高温氧化铝陶瓷;
———4.4测量范围从室温至800 ℃变化为室温至1200 ℃;
———4.5线膨胀系数单位改为 K-1。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利,本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由中国电子技术标准化研究院归口。
本部分起草单位:中国电子科技集团公司第十二研究所、河南济源兄弟材料有限公司、浙江温岭特种陶瓷厂。
本部分主要起草人:高陇桥、黄国立、胡菊飞。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T5594.3—1985。

替代情况

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引用标准

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本标准相关公告

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采标情况

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