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波片相位延迟测量装置的校准方法现行

Calibration method for measurement equipment of wave plate phase retardation

标准号：GB/T 26827-2011

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基本信息

标准号：GB/T 26827-2011

发布时间：2011-07-29

实施时间：2011-12-01

首发日期：2011-07-29

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：张书练、刘维新、丁铭

出版机构：中国标准出版社

标准分类：光学仪器综合

ICS分类：光学设备

提出单位：中国机械工业联合会

起草单位：清华大学

归口单位：全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC 103)

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会

主管部门：全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC 103)

标准简介

本标准规定了对波片相位延迟测量装置进行校准的术语和定义、测量原理、校准方法和校准。本标准适用于对各种原理的波片相位延迟测量装置的精度进行校准。

标准摘要

本标准的附录A 为资料性附录。
本标准由中国机械工业联合会提出。
本标准由全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC103)归口。
本标准主要起草单位:清华大学。
本标准主要起草人:张书练、刘维新、丁铭。

标准目录

前言 Ⅲ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 测量原理 2
5 校准方法 3
5.1 概述 3
5.2 校准装置 3
6 校准 3
6.1 绝对校准法 3
6.2 比较校准法 4
6.3 校准结果形式 5
附录A (资料性附录) 校准装置的说明 6
A.1 基于激光频率分裂原理的波片相位延迟基准测量装置 6
A.2 标准波片 8
A.3 晶体石英最大双折射率Δnλ计算用表(Δnλ=ne-no为24.8℃下由分析式得到的计算值) 8

替代情况

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采标情况

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