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微束分析电子背散射衍射取向分析方法导则现行

Microbeam analysis—Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction

标准号：GB/T 30703-2014

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基本信息

标准号：GB/T 30703-2014

发布时间：2014-06-09

实施时间：2014-12-01

首发日期：

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：张作贵、田青超、陈家光、曾毅。

出版机构：中国标准出版社

标准分类：基础标准与通用方法

ICS分类：物理化学分析方法

提出单位：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)

起草单位：上海发电设备成套设计研究院、宝钢集团中央研究院、中国科学院上海硅酸盐研究所。

归口单位：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会

主管部门：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)

标准简介

本标准给出了使用电子背散射衍射(EBSD)技术进行晶体取向测量的指南,使测量数据具有较高的可靠性和重复性,本标准确立了试样制备、仪器配置、校正以及数据采集的一般原则。本标准适用于EBSD对块状晶体样品的晶粒取向分析。

标准摘要

本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准使用翻译法等同采用国际标准:ISO24173:2009《微束分析电子背散射衍射取向测定方法导则》。
与本标准中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下:
———GB/T27025—2008 检测和校准实验室能力的通用要求(ISO/IEC17025:2005,IDT)。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。
本标准起草单位:上海发电设备成套设计研究院、宝钢集团中央研究院、中国科学院上海硅酸盐研究所。
本标准主要起草人:张作贵、田青超、陈家光、曾毅。

标准目录

前言 Ⅰ
引言 Ⅱ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 EBSD设备 6
5 操作条件 7
6 EBSP指数标定所需的校正 11
7 分析过程 14
8 测量不确定度 14
9 分析结果的发布 15
附录A (资料性附录) EBSD的工作原理 16
附录B(规范性附录) EBSD的试样制备 17
附录C(资料性附录) 晶体学、EBSP标定及其他与EBSD相关的有用资料 22
参考文献

替代情况

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引用标准

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采标情况

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