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半导体器件分立器件第4-1部分：微波二极管和晶体管微波场效应晶体管空白详细规范现行

Semiconductor devices—Discrete devices—Part 4-1:microwave diodes and transistors—Microwave field effect transistors—Blank detail specification

标准号：GB/T 21039.1-2007

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基本信息

标准号：GB/T 21039.1-2007

发布时间：2007-06-29

实施时间：2007-11-01

首发日期：2007-06-29

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：罗发明、刘春勋

出版机构：中国标准出版社

标准分类：半导体二极管

ICS分类：三极管

提出单位：信息产业部

起草单位：中国电子技术标准化研究所

归口单位：全国半导体分立器件标准化分技术委员会

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会

主管部门：信息产业部（电子）

标准简介

本部分等同采用IEC 60747-4-1：2000《半导体器件分立器件第4-1部分：微波二极管和晶体管微波场效应晶体管空白详细规范》。本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，具体内容包括：机械说明；简要说明；质量评定类别；极限值；电特性；标志；订货资料；试验条件和简要要求等。

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