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识别卡测试方法第7部分：邻近式卡现行

Identification cards—Test methods—Part 7:Vicinity cards

标准号：GB/T 17554.7-2010

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基本信息

标准号：GB/T 17554.7-2010

发布时间：2010-12-01

实施时间：2011-04-01

首发日期：2010-12-01

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：冯敬、高林、袁理、金倩、黄小鹏、耿力、赵子渊

出版机构：中国标准出版社

标准分类：数据媒体

ICS分类：识别卡和有关装置

提出单位：全国信息技术标准化技术委员会(SAC/TC 28)

起草单位：中国电子技术标准化研究所、东信和平智能卡股份有限公司

归口单位：全国信息技术标准化技术委员会(SAC/TC 28)

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会

主管部门：全国信息技术标准化技术委员会(SAC/TC 28)

标准简介

GB/T17554规定了符合GB/T14916识别卡特性的测试方法。每一测试方法交叉引用一个或多个基础标准,这些基础标准可以是GB/T14916或一个或多个定义了用于识别卡应用的信息存储技术的补充标准。GB/T17554的本部分规定了无触点集成电路卡技术(邻近式卡)的测试方法。第1部分规定了为一种或多种卡技术所共用的测试方法;其他部分则规定了各个专项技术的测试方法。除非另有规定,本部分中的测试仅适用于GB/T22351.1和GB/T22351.2中定义的邻近式卡。

标准摘要

GB/T17554在《识别卡测试方法》总标题下,目前分为如下7个部分:
———第1部分:一般特性测试;
———第2部分:磁条卡;
———第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备;
———第4部分:无触点集成电路卡;
———第5部分:光记忆卡;
———第6部分:接近式卡;
———第7部分:邻近式卡。
本部分为GB/T17554的第7部分。本部分使用重新起草法,修改采用国际标准ISO/IEC10373-7:2008《识别卡测试方法第7部分:邻近式卡》(英文版)。
本部分与ISO/IEC10373-7:2008相比,增加和修改了下列内容,并在相应条款的外侧页边空白处用单垂线标示:
a) 为了使标准更加清晰易懂,增加了缩略语PCB;
b) 为了便于引用,8.1.2做了编辑性修改;
c) 为了避免实际应用中可能出现在规定的工作区域内VICC不能正常工作的情况,增加第9章工作场强测试。
本部分的附录A、附录C和附录D是规范性附录。
本部分的附录B、附录E和附录F是资料性附录。
本部分由全国信息技术标准化技术委员会(SAC/TC28)提出并归口。
本部分起草单位:中国电子技术标准化研究所、东信和平智能卡股份有限公司。
本部分主要起草人:冯敬、高林、袁理、金倩、黄小鹏、耿力、赵子渊。

标准目录

前言 Ⅰ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义、缩略语和符号 1
4 适用于测试方法的默认条款 2
5 静电测试 2
6 测试装置和测试电路 3
7 VICC的功能测试 6
8 VCD的功能测试 7
9 VICC的工作场强测试 8
附录A (规范性附录) 测试VCD天线 9
附录B(资料性附录) 测试VCD天线调谐 11
附录C (规范性附录) 传感线圈 13
附录D (规范性附录) 用于VCD功率测试的参考VICC 15
附录E (资料性附录) 用于负载调制测试的参考VICC 17
附录F(资料性附录) 频谱计算程序 18

替代情况

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引用标准

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本标准相关公告

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采标情况

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