当前位置:
首页 >
无损检测 闪光灯激励红外热像法 导则

Non-destructive testing—Infrared flash thermography—Guideline
标准号:GB/T 26643-2011
基本信息
标准号:GB/T 26643-2011
发布时间:2011-06-16
实施时间:2012-03-01
首发日期:2011-06-16
出版单位:中国标准出版社查看详情>
起草人:陶宁、王迅、郭广平、李艳红、朱军辉、曾智、金万平、张存林、伍耐明、刘颖韬、金宇飞
出版机构:中国标准出版社
标准分类: 基础标准与通用方法
ICS分类:无损检测
起草单位:北京维泰凯信新技术有限公司、首都师范大学、中国航空工业集团公司北京航空材料研究院、北京理工大学、航天材料及工艺研究所、北京航空航天大学、上海泰司检测科技有限公司、上海材料研究所
归口单位:全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC 56)
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
主管部门:全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC 56)
标准简介
本标准规定了闪光灯激励红外热像法无损检测的一般原则,适用于材料和结构的表面及近表面缺陷检测。
标准摘要
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。 本标准由全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56)归口。 本标准起草单位:北京维泰凯信新技术有限公司、首都师范大学、中国航空工业集团公司北京航空材料研究院、北京理工大学、航天材料及工艺研究所、北京航空航天大学、上海泰司检测科技有限公司、上海材料研究所。 本标准主要起草人:陶宁、王迅、郭广平、李艳红、朱军辉、曾智、金万平、张存林、伍耐明、刘颖韬、金宇飞。 |
标准目录
前言 Ⅰ 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 1 4 方法概要 1 5 检测系统 2 6 试件 3 7 检测工艺规程 4 8 数据处理和缺陷分析 6 9 安全性 10 附录A (资料性附录) 缺陷的热图分析示例 11 附录B(资料性附录) 微分热图的应用示例 12 附录C (资料性附录) 缺陷的曲线分析示例 13 |
推荐检测机构
申请入驻
暂未检测到相关机构,邀您申请入驻~
推荐认证机构
申请入驻
暂未检测到相关机构,邀您申请入驻~
推荐培训机构
申请入驻
暂未检测到相关机构,邀您申请入驻~