
General specification for logic analyzer
标准号:GB/T 15471-2013
基本信息
标准号:GB/T 15471-2013
发布时间:2013-12-17
实施时间:2014-05-15
首发日期:
出版单位:中国标准出版社查看详情>
起草人:王厚军、戴志坚、师奕兵、黄英华、田书林、曹玲
出版机构:中国标准出版社
标准分类: 电子测量与仪器综合
ICS分类:电学、磁学、电和磁的测量
提出单位:中华人民共和国工业和信息化部
起草单位:电子科技大学、工业和信息化部电子工业标准化研究院
归口单位:全国电子测量仪器标准化技术委员会(SAC/TC 153)
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
主管部门:全国电子测量仪器标准化技术委员会(SAC/TC 153)
标准简介
本标准规定了逻辑分析仪的术语、产品分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存等。本标准适用于逻辑分析仪,也适用于具有逻辑插入单元或逻辑分析仪附属装置的测量仪器,外置式的逻辑分析仪也可参照本标准。
标准摘要
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。 本标准代替GB/T15471—1995《逻辑分析仪通用技术条件和测试方法》,本标准与GB/T15471—1995相比,主要变化如下: ———增加了部分术语及定义。 ———增加了门限步进、毛刺脉冲宽度、触发序列速度等参数的试验方法。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。 本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。 本标准由全国电子测量仪器标准化技术委员会(SAC/TC153)归口。 本标准起草单位:电子科技大学、工业和信息化部电子工业标准化研究院。 本标准主要起草人:王厚军、戴志坚、师奕兵、黄英华、田书林、曹玲。 本标准所代替标准的历次版本发布情况为: ———GB/T15471—1995。 |
标准目录
前言 Ⅰ 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 1 4 产品分类 7 5 要求 8 6 试验方法 11 7 检验规则 24 8 标志、包装、运输、贮存 29 |
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