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介电晶体介电性能的试验方法现行

Test method for dielectric properties of dielectric crystal

标准号：GB/T 16822-1997

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基本信息

标准号：GB/T 16822-1997

发布时间：1997-05-28

实施时间：1998-02-01

首发日期：1997-05-28

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：

出版机构：中国标准出版社

标准分类：电子技术专用材料

ICS分类：电子元件综合

起草单位：中国科学院物理研究所

归口单位：信息产业部（电子）

发布部门：国家技术监督局

主管部门：信息产业部（电子）

标准简介

本标准规定了介电晶体的低频（10MHz以下)介电系数及介电损耗的试验方法。本标准适用于介电晶体的介电性能的测定。

替代情况

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