微束分析硅酸盐玻璃的定量分析波谱法及能谱法现行

Microbeam analysis—Quantitative analysis of silicate glass by wavelength dispersive X-ray spectrometry and energy dispersive X-ray spectrometry

标准号：GB/T 15244-2013

获取原文如何获取原文？问客服获取原文，即可享受本标准状态变更提醒服务！

基本信息

标准号：GB/T 15244-2013

发布时间：2013-07-19

实施时间：2014-03-01

首发日期：

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：李香庭、曾毅、吴伟

出版机构：中国标准出版社

标准分类：基础标准与通用方法

ICS分类：化学分析

提出单位：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)

起草单位：中国科学院上海硅酸盐研究所

归口单位：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会

主管部门：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)

标准简介

本标准规定了电子探针仪(EPMA)和扫描电子显微镜(SEM)的X 射线波谱仪(WDS)和能谱仪(EDS)对硅酸盐玻璃的定量分析方法。本标准适用于硅酸盐玻璃试样(包括碱金属的硅酸盐玻璃)的波谱法(WDX)和能谱法(EDX)的定量分析。

标准摘要

本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准代替GB/T15244—2002《玻璃的电子探针定量分析方法》
本标准与GB/T15244—2002相比主要内容变化如下:
———增加了标准样品的选择原则(见5.1和5.2);
———删除5.3中(K-44)和(K-45);
———增加了试样制备后的要求(见6.1);
———修改了试样和标准样品蒸镀导电膜的具体要求(见6.3);
———修改了仪器定量分析前开机时间的要求(见7.1.1);
———增加了“分析区域较大时,也可以用电子探针的同轴光学显微镜确定分析部位”(见7.14);
———加速电压选择中增加了过压比的要求,修改了不同原子序数的加速电压选择方法(见7.2.1);
———增加了硅漂移能谱仪(SDD)的束流选择方法(见7.2.2);
———增加了用电子束扫描的方法分析不稳定玻璃(见7.2.3);
———修改了X射线线系的原子序数选择范围(见7.2.4);
———增加了SDD能谱仪的测量条件(见7.3.3);
———增加了X射线强度在测量时间内变化量小于1%的要求(见7.3.5);
———增加了轻元素的差值法测量(见8.2);
———增加了无标样EDS定量分析方法(见8.4)。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。
本标准起草单位:中国科学院上海硅酸盐研究所。
本标准主要起草人:李香庭、曾毅、吴伟。
本标准所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T15244—2002。

替代情况

会员注册/登录后查看详情

引用标准

会员注册/登录后查看详情

本标准相关公告

会员注册/登录后查看详情

采标情况

会员注册/登录后查看详情

推荐检测机构

申请入驻

暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~

推荐认证机构

申请入驻

暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~

推荐培训机构

申请入驻

暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~

微束分析 硅酸盐玻璃的定量分析 波谱法及能谱法 现行

申请获取原文权限

微束分析硅酸盐玻璃的定量分析波谱法及能谱法现行