贯入法检测砌筑砂浆抗压强度技术规程现行

Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy—Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures

标准号：JGJ/T 136-2017

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基本信息

标准号：JGJ/T 136-2017

发布时间：2017-02-20

实施时间：2017-09-01

首发日期：

出版单位：中国建筑工业出版社查看详情>

起草人：柳得橹、郜欣、权茂华

出版机构：中国建筑工业出版社

标准分类：基础标准与通用方法

ICS分类：化学分析

提出单位：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)

起草单位：北京科技大学

归口单位：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)

发布部门：中华人民共和国住房和城乡建设部

主管部门：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)

标准简介

本标准规定了透射电镜（TEM）在很大放大倍率范围内所记录的图像的校准方法。用于校准的标准物质具有周期性结构，例如衍射光栅复型、半导体的超点阵结构或X射线分析的分光晶体以及碳、金或硅的晶体晶格像。? 本标准适用于记录在照相胶片上或成像板上或数字相机内置传感器采集的 TEM图像的放大倍率。本标准也可用于校准标尺，但不适用于专用的临界尺寸测长透射电镜（CD-TEM）和扫描透射电镜（STEM）。

替代情况

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