2014年9月18日，国家《硅粉中总碳含量的测定    感应炉内燃烧后红外吸收法》和电子行业《采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法》两项的审查会在江苏省无锡市召开。
   会议由全国半导体设备和材料化技术委员会（TC203）主办，由国家太阳能光伏产品质量监督检验中心（CPVT）组织，来自上海材料研究所(国家金属材料质量监督检验中心)、中国计量科学研究院、北京有色金属研究总院、昆明理工大学、上海市计量测试技术研究院、中国科学院上海硅酸盐研究所、中国科学院福建物质结构研究所、江南大学、无锡尚德太阳能电力有限公司、英利集团有限公司等企事业单位的17位专家代表参加了本次会议。
   会上，与会专家对《硅粉中总碳含量的测定    感应炉内燃烧后红外吸收法》和《采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法》两项的送审材料从体系的配套性和协调性、技术内容、技术成熟度、试验验证和文本质量等方面进行了严格审查，并分别提出了15余条有价值的修改建议，评审专家一致同意两项根据评审意见完成修改后报批。国家光伏质检中心作为主编单位将根据本次会议的结果尽快完成报批稿，力争早日完成制订任务。